Optimierung der Schichtstrukturen, Grenzflächen und Pufferschichten von Mo/Si-Multischichten in Hinsicht auf die EUV- Reflektivität:
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Bibliographic Details
Main Author: Westerwalbesloh, Thomas E. 1973- (Author)
Format: Book
Language:German
Published: 2003
Subjects:
Item Description:Bielefeld, Univ., Diss., 2003
Physical Description:V, 115 S. graph. Darst.

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