Optimierung der Schichtstrukturen, Grenzflächen und Pufferschichten von Mo/Si-Multischichten in Hinsicht auf die EUV- Reflektivität:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Westerwalbesloh, Thomas E. 1973- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 2003
Schlagworte:
Beschreibung:Bielefeld, Univ., Diss., 2003
Beschreibung:V, 115 S. graph. Darst.

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