Defect and fault tolerance in VLSI systems:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam [u.a.] North-Holland 2002
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben. - In: Journal of systems architecture ; 47 (2002),10 : Special issue
Beschreibung:S. 821 - 916 Ill., graph. Darst.

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