Particle induced x-ray emission and its analytical applications: proceedings of the Ninth International Conference on PIXE and Its Analytical Applications ; Guelph, Ontario, Canada, 8 - 12 June 2001
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam North-Holland 2002
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben. - In: Nuclear instruments and methods in physics research : Section B, Beam interaction with materials and atoms ; 189 (2002)
Beschreibung:XIX, 529 S. Ill., graph. Darst.

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