Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Nuffer, Roland (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin Logos-Verl. 2001
Schlagworte:
Beschreibung:79 S. graph. Darst.
ISBN:3897226642

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