Scanning Probe Microscopy: [ held at Atagawa Haitsu, Shizuoka from December 9 to 11, 1999 ]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Tokyo Japan Soc. of Applied Physics 2000
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben. - In: Japanese journal of applied physics : 1 ; 39 (2000),6B : Special issue
Beschreibung:S. 3701 - 3833 Ill., graph. Darst.

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