Proceedings of the 20th International Conference on Defects in Semiconductors: held in Berkeley, CA, USA, 26 - 30 July 1999
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Defects in Semiconductors Berkeley, Calif (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam [u.a.] North-Holland 1999
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben. - In: Physica : B, Condensed matter ; 273/274 (1999)
Beschreibung:XXV, 1063 S. Ill., graph. Darst.

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