Scanning tunneling microscopy: [ the 4th International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy was held at Kanazawa Institute of Technology from December 12 to 14, 1996 ... ]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Tokyo Japan Soc. of Applied Physics 1997
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben. - In: Japanese journal of applied physics / 1 ; 36 (1997),6B : Special issue
Beschreibung:S. 3791 - 4223 Ill., graph. Darst.

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