Schroder, D. K. (1990). Semiconductor material and device characterization ([Nachdr.].). Wiley.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. [Nachdr.]. New York, NY [u.a.]: Wiley, 1990.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. [Nachdr.]. Wiley, 1990.
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