Semiconductor material and device characterization:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schroder, Dieter K. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY [u.a.] Wiley c 1990
Ausgabe:[Nachdr.]
Schriftenreihe:A Wiley-Interscience publication
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:XV, 599 S. graph. Darst.
ISBN:0471511048

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