Scanning tunneling microscopy: special issue ; [ the 3rd International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy was held at Kamazawa Institute of Technology from December 7 to 9, 1995 ... ]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Tokyo Publ. Office, Japanese Journal of Applied Physics 1996
Schlagworte:
Beschreibung:In: Japanese journal of applied physics ; 35 (1996), 6B
Beschreibung:S. 3695 - 3797 Ill., graph. Darst.

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