Containing papers presented at the International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis: Yorktown Heights, NY, June 18-20, 1973
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis Yorktown Heights, NY (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Elsevier Sequoia 1973
Schlagworte:
Beschreibung:In: Thin solid films. Vol.19, 1973
Beschreibung:VIII, 420 S. Ill., graph. Darst.

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