Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Mikrofilm Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1989
|
| Ausgabe: | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 94 S. graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000zc 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV021902179 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20140515 | ||
| 007 | he|bmb024bbcu | ||
| 008 | 920128s1989 d||| bm||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)165660855 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV021902179 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-706 |a DE-188 | ||
| 100 | 1 | |a Bollu, Michael G. |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs |c Michael Georg Bollu |
| 250 | |a [Mikrofiche-Ausg.] | ||
| 264 | 1 | |c 1989 | |
| 300 | |a 94 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b h |2 rdamedia | ||
| 338 | |b he |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a München, Techn. Univ., Diss., 1989 | ||
| 533 | |a Mikroform-Ausgabe |n Mikrofiche-Ausg.: |e 1 Mikrofiche : 24x | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Degradation |g Technik |0 (DE-588)4206992-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a MOS-FET |0 (DE-588)4207266-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Ladungsträger |0 (DE-588)4166397-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Ladungstransport |0 (DE-588)4166400-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Ladungsträger |0 (DE-588)4166397-4 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a MOS-FET |0 (DE-588)4207266-9 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Degradation |g Technik |0 (DE-588)4206992-0 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Ladungstransport |0 (DE-588)4166400-0 |D s |
| 689 | 1 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a MOS-FET |0 (DE-588)4207266-9 |D s |
| 689 | 2 | |5 DE-604 | |
| 776 | 0 | 8 | |i Reproduktion von |a Bollu, Michael G. |t Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs |d 1989 |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-015117359 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804135848908685312 |
|---|---|
| adam_txt | |
| any_adam_object | |
| any_adam_object_boolean | |
| author | Bollu, Michael G. |
| author_facet | Bollu, Michael G. |
| author_role | aut |
| author_sort | Bollu, Michael G. |
| author_variant | m g b mg mgb |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV021902179 |
| ctrlnum | (OCoLC)165660855 (DE-599)BVBBV021902179 |
| edition | [Mikrofiche-Ausg.] |
| format | Thesis Microfilm Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01725nam a2200457zc 4500</leader><controlfield tag="001">BV021902179</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20140515 </controlfield><controlfield tag="007">he|bmb024bbcu</controlfield><controlfield tag="008">920128s1989 d||| bm||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)165660855</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV021902179</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-706</subfield><subfield code="a">DE-188</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Bollu, Michael G.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs</subfield><subfield code="c">Michael Georg Bollu</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">[Mikrofiche-Ausg.]</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1989</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">94 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">h</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">he</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">München, Techn. Univ., Diss., 1989</subfield></datafield><datafield tag="533" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Mikroform-Ausgabe</subfield><subfield code="n">Mikrofiche-Ausg.:</subfield><subfield code="e">1 Mikrofiche : 24x</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Degradation</subfield><subfield code="g">Technik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4206992-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">MOS-FET</subfield><subfield code="0">(DE-588)4207266-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Ladungsträger</subfield><subfield code="0">(DE-588)4166397-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Ladungstransport</subfield><subfield code="0">(DE-588)4166400-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Ladungsträger</subfield><subfield code="0">(DE-588)4166397-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">MOS-FET</subfield><subfield code="0">(DE-588)4207266-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Degradation</subfield><subfield code="g">Technik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4206992-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Ladungstransport</subfield><subfield code="0">(DE-588)4166400-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">MOS-FET</subfield><subfield code="0">(DE-588)4207266-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Reproduktion von</subfield><subfield code="a">Bollu, Michael G.</subfield><subfield code="t">Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs</subfield><subfield code="d">1989</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-015117359</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV021902179 |
| illustrated | Illustrated |
| index_date | 2024-07-02T16:04:44Z |
| indexdate | 2024-07-09T20:47:02Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-015117359 |
| oclc_num | 165660855 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-706 DE-188 |
| owner_facet | DE-706 DE-188 |
| physical | 94 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1989 |
| publishDateSearch | 1989 |
| publishDateSort | 1989 |
| record_format | marc |
| spelling | Bollu, Michael G. Verfasser aut Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs Michael Georg Bollu [Mikrofiche-Ausg.] 1989 94 S. graph. Darst. txt rdacontent h rdamedia he rdacarrier München, Techn. Univ., Diss., 1989 Mikroform-Ausgabe Mikrofiche-Ausg.: 1 Mikrofiche : 24x Degradation Technik (DE-588)4206992-0 gnd rswk-swf MOS-FET (DE-588)4207266-9 gnd rswk-swf Ladungsträger (DE-588)4166397-4 gnd rswk-swf Ladungstransport (DE-588)4166400-0 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Ladungsträger (DE-588)4166397-4 s DE-604 MOS-FET (DE-588)4207266-9 s Degradation Technik (DE-588)4206992-0 s Ladungstransport (DE-588)4166400-0 s 1\p DE-604 Reproduktion von Bollu, Michael G. Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs 1989 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Bollu, Michael G. Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs Degradation Technik (DE-588)4206992-0 gnd MOS-FET (DE-588)4207266-9 gnd Ladungsträger (DE-588)4166397-4 gnd Ladungstransport (DE-588)4166400-0 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4206992-0 (DE-588)4207266-9 (DE-588)4166397-4 (DE-588)4166400-0 (DE-588)4113937-9 |
| title | Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs |
| title_auth | Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs |
| title_exact_search | Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs |
| title_exact_search_txtP | Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs |
| title_full | Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs Michael Georg Bollu |
| title_fullStr | Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs Michael Georg Bollu |
| title_full_unstemmed | Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs Michael Georg Bollu |
| title_short | Transportuntersuchungen und Rauschspektroskopie an degradierten MOSFETs |
| title_sort | transportuntersuchungen und rauschspektroskopie an degradierten mosfets |
| topic | Degradation Technik (DE-588)4206992-0 gnd MOS-FET (DE-588)4207266-9 gnd Ladungsträger (DE-588)4166397-4 gnd Ladungstransport (DE-588)4166400-0 gnd |
| topic_facet | Degradation Technik MOS-FET Ladungsträger Ladungstransport Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT bollumichaelg transportuntersuchungenundrauschspektroskopieandegradiertenmosfets |