Proceedings of the Topical Conference on Probing the Nanometer Scale Properties of Surfaces and Interfaces: 3-4 October 1988, Atlanta, Ga.
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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Topical Conference on Probing the Nanometer Scale Properties of Surfaces and Interfaces Atlanta, Ga (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: New York American Inst. of Physics 1989
Schlagworte:
Beschreibung:In: Journal of vacuum science and technology / 2/A. Vol.7, Nr.4, 1989
Beschreibung:S. 2823-2930 Ill., graph. Darst.

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