Reliability theory and applications: proceedings of the China-Japan Reliability Symposium ; September 13-25, 1987 Shanghai, Xian and Beijing, China
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Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Singapore [u.a.] World scientific 1987
Schlagworte:
Beschreibung:XII, 433 S.
ISBN:9971503476

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