Streuwinkelabhängige Elektronenenergieverlustmessungen an dünnen polykristallinen ZnS-, ZnSe- und CdS-Schichten zur experimentellen Bestimmung ausgewählter elektronischer Eigenschaften dieser II-VI-Verbindungen:
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| Format: | Buch |
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| Beschreibung: | Berlin, Ost, Univ., Diss. |
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