Point defects in semiconductors:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Lannoo, Michel (VerfasserIn), Bourgoin, Jacques (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer
Schriftenreihe:Springer series in solid-state sciences ...
Schlagworte:

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