Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
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Bibliographic Details
Main Authors: Dietrich, Edgar 1951- (Author), Schulze, Alfred 1952- (Author)
Format: Book
Language:German
Published: München [u.a.] Hanser 2007
Edition:3., aktualisierte und erw. Aufl.
Subjects:
Online Access:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Physical Description:462 S. in getr. Zählung Ill., graph. Darst.
ISBN:3446407324
9783446407329

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