Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Dietrich, Edgar 1951- (VerfasserIn), Schulze, Alfred 1952- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München [u.a.] Hanser 2007
Ausgabe:3., aktualisierte und erw. Aufl.
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:462 S. in getr. Zählung Ill., graph. Darst.
ISBN:3446407324
9783446407329

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