X-ray powder diffraction studies at non-ambient conditions on the compounds In x Nb 3 Te 4 (x = 0,0.54) and Si[C(CH 3) 3] n[Si(CH 3) 3] 4-n (n = 0,1,2):
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wunschel, Markus (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 2003
Schlagworte:
Beschreibung:VI, 173 S. Ill., graph. Darst.

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