Phasenmessende Deflektometrie: ein Verfahren zur hochgenauen Vermessung spiegelnder Oberflächen
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Bibliographic Details
Main Author: Horneber, Christoph 1971- (Author)
Format: Book
Language:German
Published: Erlangen Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung 2006
Series:Progress in modern optics 8
Subjects:
Online Access:Inhaltsverzeichnis
Item Description:Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2006
Physical Description:116 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3932392647

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