Phasenmessende Deflektometrie: ein Verfahren zur hochgenauen Vermessung spiegelnder Oberflächen
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Horneber, Christoph 1971- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Erlangen Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung 2006
Schriftenreihe:Progress in modern optics 8
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2006
Beschreibung:116 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3932392647

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