Horneber, C. (2006). Phasenmessende Deflektometrie: Ein Verfahren zur hochgenauen Vermessung spiegelnder Oberflächen. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Horneber, Christoph. Phasenmessende Deflektometrie: Ein Verfahren Zur Hochgenauen Vermessung Spiegelnder Oberflächen. Erlangen: Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, 2006.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Horneber, Christoph. Phasenmessende Deflektometrie: Ein Verfahren Zur Hochgenauen Vermessung Spiegelnder Oberflächen. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, 2006.
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