APA (7th ed.) Citation

Stamm, K. (2002). Logik im Patentrecht: Objektive Fundamente der Urteilsbildung. Heymann.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Stamm, Kurt. Logik Im Patentrecht: Objektive Fundamente Der Urteilsbildung. Köln ; Berlin ; Bonn ; München: Heymann, 2002.

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Stamm, Kurt. Logik Im Patentrecht: Objektive Fundamente Der Urteilsbildung. Heymann, 2002.