Logik im Patentrecht: objektive Fundamente der Urteilsbildung
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Köln ; Berlin ; Bonn ; München
Heymann
2002
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| Beschreibung: | XVIII, 403 S. 21 cm. - 21 cm |
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