Physical principles of electron microscopy: an introduction to TEM, SEM, and AEM
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Egerton, Ray F. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY Springer 2005
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
Beschreibung:XII, 202 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0387258000

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