SPM Peking. (2005). SPM 2004: Proceedings of the sixth International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Beijing, China, May 24 - 26, 2004. Elsevier.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)SPM Peking. SPM 2004: Proceedings of the Sixth International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Beijing, China, May 24 - 26, 2004. Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 2005.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)SPM Peking. SPM 2004: Proceedings of the Sixth International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Beijing, China, May 24 - 26, 2004. Elsevier, 2005.
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