Transporteigenschaften von Elektronen in Siliziumkarbid bei tiefen Temperaturen und im Kanal von Metall-Oxid-Halbleiter-Transistoren:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Krieger, Michael (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 2005
Schlagworte:
Beschreibung:Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2005
Beschreibung:VII, 214 S. Ill, graph. Darst.

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