Messungen geringster organischer Belegungen auf diffus reflektierenden Oberflächen mit einem mIR-faseroptischen Prüfkopf:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
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Format: | Abschlussarbeit Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Saarbrücken
LFT, Lehrstuhl für Fertigungstechnik/CAM
2005
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Schriftenreihe: | Schriftenreihe Produktionstechnik
31 |
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Beschreibung: | XV, 147 S. Ill., graph. Darst. |
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