Adaptierung / Integration einer USB2.0 High Speed Schnittstelle in ein Boundary Scan basiertes Test-System für Mikrochips:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
Ingolstadt
2004
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| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Fachhochschule Ingolstadt, Diplomarb., 2004 |
| Beschreibung: | 90 Bl. Ill., graph. Darst. 1 CD-ROM (12 cm) |
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