Seitz, C. (2005). Charakterisierung von Defekten in SiC-Kristallen mit einem 3-Achsen Diffraktometer für hohe Röntgen-Energien.
Chicago Style (17th ed.) CitationSeitz, Christoph. Charakterisierung Von Defekten in SiC-Kristallen Mit Einem 3-Achsen Diffraktometer Für Hohe Röntgen-Energien. 2005.
MLA (9th ed.) CitationSeitz, Christoph. Charakterisierung Von Defekten in SiC-Kristallen Mit Einem 3-Achsen Diffraktometer Für Hohe Röntgen-Energien. 2005.
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