Charakterisierung von Defekten in SiC-Kristallen mit einem 3-Achsen Diffraktometer für hohe Röntgen-Energien:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Seitz, Christoph 1974- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 2005
Schlagworte:
Beschreibung:IV, 145 S. Ill., graph. Darst.

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