Structural and electrical characterization of heterostructures suitable for future nanoscale CMOS devices:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Myrberg, Tobias (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 2004
Schlagworte:
Beschreibung:Göteborg, Univ., Diss., 2004
Beschreibung:Getr. Zählung Ill., graph. Darst.
ISBN:9162863525

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