Optimierung der Schichtstrukturen, Grenzflächen und Pufferschichten von Mo-Si-Multischichten in Hinsicht auf die EUV-Reflektivität:
Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Westerwalbesloh, Thomas E. 1973- (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
Published: 2003
Subjects:
Physical Description:V, 115 S. Ill., graph. Darst. 21 cm

There is no print copy available.

Interlibrary loan Place Request Caution: Not in THWS collection!