Charakterisierung von ohmschen Titan-Aluminium-Kontakten auf Silizium-dotiertem Galliumnitrid mit der Augerelektronenspektroskopie und der energiefilternden Transmissionselektronenmikroskopie:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Blome, Markus (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Aachen Mainz 2003
Schriftenreihe:Aachener Beiträge zur Physik der kondensierten Materie 32
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2003
Beschreibung:VIII, 160 S. Ill., graph. Darst. : 21 cm
ISBN:3860738917

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