Surface and interface analysis:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Tokyo Japan Soc. of Applied Physics 2003
Schriftenreihe:Japanese journal of applied physics 42,7B : special issue
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zeitschr.-H. - Beigef.: Scanning probe microscopy
Beschreibung:S. 4621 - 4904 Ill., graph. Darst.

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