Leitungsmechanismen in thermisch oxidiertem Silicium dioxid, das mit Hilfe der lanenimplantation datiert wird:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Haack, Dietmar (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1978

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