Oberflächenstruktur und Debye-Waller-Faktor reiner Si<111>-Spaltflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Auer, Peter P. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1978
Schlagworte:

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