Untersuchung der Wirkung ionisierender Strahlung auf thermisch oxidierte Silizium-Obeflächen mit Hilfe des Feldeffektes:
Gespeichert in:
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| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin
HMI
1969
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| Schriftenreihe: | HMI-Berichte / Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin GmbH
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