Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | Undetermined |
Veröffentlicht: |
1968
|
Schlagworte: |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000zc 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV018140332 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 00000000000000.0 | ||
007 | t | ||
008 | 040416s1968 |||| 00||| und d | ||
035 | |a (OCoLC)251478137 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV018140332 | ||
040 | |a DE-604 |b ger | ||
041 | |a und | ||
049 | |a DE-12 | ||
100 | 1 | |a Fränz, I. |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen |
264 | 1 | |c 1968 | |
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
505 | 0 | |a Mit 3 Abb. u. 5 Tab. (Als Ms. gedr.)<br>(München: Zentralstelle f. Luftfahrtdokumentation u. -information <ZLDI> [in Komm.]) 1968. 23 S. 4<br>(Bundesministerium f. Wiss. Forschung. Forschungsbericht. W. 1968,69.) | |
650 | 0 | 7 | |a Halbleiteroberfläche |0 (DE-588)4137418-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Quarz |0 (DE-588)4048011-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Verunreinigung |0 (DE-588)4188107-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
689 | 0 | 0 | |a Halbleiteroberfläche |0 (DE-588)4137418-6 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Quarz |0 (DE-588)4048011-2 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Verunreinigung |0 (DE-588)4188107-2 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
700 | 1 | |a Langheinrich, Werner |e Sonstige |4 oth | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-010911146 | ||
980 | 4 | |a (DE-12)AK7200309 | |
980 | 4 | |a (DE-12)AK12800074 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804130737139482624 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Fränz, I. |
author_facet | Fränz, I. |
author_role | aut |
author_sort | Fränz, I. |
author_variant | i f if |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV018140332 |
contents | Mit 3 Abb. u. 5 Tab. (Als Ms. gedr.)<br>(München: Zentralstelle f. Luftfahrtdokumentation u. -information <ZLDI> [in Komm.]) 1968. 23 S. 4<br>(Bundesministerium f. Wiss. Forschung. Forschungsbericht. W. 1968,69.) |
ctrlnum | (OCoLC)251478137 (DE-599)BVBBV018140332 |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01344nam a2200361zc 4500</leader><controlfield tag="001">BV018140332</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">040416s1968 |||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)251478137</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV018140332</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-12</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Fränz, I.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1968</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="505" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Mit 3 Abb. u. 5 Tab. (Als Ms. gedr.)<br>(München: Zentralstelle f. Luftfahrtdokumentation u. -information <ZLDI> [in Komm.]) 1968. 23 S. 4<br>(Bundesministerium f. Wiss. Forschung. Forschungsbericht. W. 1968,69.)</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiteroberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137418-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Quarz</subfield><subfield code="0">(DE-588)4048011-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Verunreinigung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4188107-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiteroberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137418-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Quarz</subfield><subfield code="0">(DE-588)4048011-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Verunreinigung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4188107-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Langheinrich, Werner</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-010911146</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1="4" ind2=" "><subfield code="a">(DE-12)AK7200309</subfield></datafield><datafield tag="980" ind1="4" ind2=" "><subfield code="a">(DE-12)AK12800074</subfield></datafield></record></collection> |
id | DE-604.BV018140332 |
illustrated | Not Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T19:25:47Z |
institution | BVB |
language | Undetermined |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-010911146 |
oclc_num | 251478137 |
open_access_boolean | |
owner | DE-12 |
owner_facet | DE-12 |
publishDate | 1968 |
publishDateSearch | 1968 |
publishDateSort | 1968 |
record_format | marc |
spelling | Fränz, I. Verfasser aut Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen 1968 txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Mit 3 Abb. u. 5 Tab. (Als Ms. gedr.)<br>(München: Zentralstelle f. Luftfahrtdokumentation u. -information <ZLDI> [in Komm.]) 1968. 23 S. 4<br>(Bundesministerium f. Wiss. Forschung. Forschungsbericht. W. 1968,69.) Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 gnd rswk-swf Quarz (DE-588)4048011-2 gnd rswk-swf Verunreinigung (DE-588)4188107-2 gnd rswk-swf Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 s Quarz (DE-588)4048011-2 s Verunreinigung (DE-588)4188107-2 s DE-604 Langheinrich, Werner Sonstige oth |
spellingShingle | Fränz, I. Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen Mit 3 Abb. u. 5 Tab. (Als Ms. gedr.)<br>(München: Zentralstelle f. Luftfahrtdokumentation u. -information <ZLDI> [in Komm.]) 1968. 23 S. 4<br>(Bundesministerium f. Wiss. Forschung. Forschungsbericht. W. 1968,69.) Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 gnd Quarz (DE-588)4048011-2 gnd Verunreinigung (DE-588)4188107-2 gnd |
subject_GND | (DE-588)4137418-6 (DE-588)4048011-2 (DE-588)4188107-2 |
title | Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen |
title_auth | Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen |
title_exact_search | Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen |
title_full | Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen |
title_fullStr | Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen |
title_full_unstemmed | Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen |
title_short | Einfluß von Verunreinigungen von Quarz auf die Reinheit geglühter Halbleiteroberflächen |
title_sort | einfluß von verunreinigungen von quarz auf die reinheit gegluhter halbleiteroberflachen |
topic | Halbleiteroberfläche (DE-588)4137418-6 gnd Quarz (DE-588)4048011-2 gnd Verunreinigung (DE-588)4188107-2 gnd |
topic_facet | Halbleiteroberfläche Quarz Verunreinigung |
work_keys_str_mv | AT franzi einflußvonverunreinigungenvonquarzaufdiereinheitgegluhterhalbleiteroberflachen AT langheinrichwerner einflußvonverunreinigungenvonquarzaufdiereinheitgegluhterhalbleiteroberflachen |