Einfluss der Oxidqualität auf die Stabilität von Halbleiterdetektoren bei Röntgenbestrahlung:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
2004
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| Beschreibung: | München, Techn. Univ., Diss., 2004 |
| Beschreibung: | IX, 183 S. Ill., graph. Darst. |
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