Analysis of residual stress by diffraction using neutron and synchrotron radiation:
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Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: London [u.a.] Taylor & Francis 2003
Ausgabe:1. publ.
Schlagworte:
Beschreibung:XI, 354 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0415303974

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