Einfluss der Oxidqualität auf die Stabilität von Halbleiterdetektoren bei Röntgenbestrahlung:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pahlke, Andreas (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:German
Veröffentlicht: 2004
Schlagworte:
Online-Zugang:http://mediatum.ub.tum.de/?id=603044
Beschreibung:München, Techn. Univ., Diss., 2004
Beschreibung:Elektronische Ressource im Fernzugriff

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!