Direct profiling of III/V semiconductor nanostructures at the atomic level by cross-sectional scanning tunneling microscopy:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bruls, Dominique Maria (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Eindhoven 2003
Schlagworte:
Beschreibung:Eindhoven, Techn. Univ., Diss., 2003
Beschreibung:119 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:9038616155

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