Störstellenspektroskopie an "Trapped Hole Zentren" binären Oxidhalbleitern:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zwingel, Dieter (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1977
Schlagworte:
Beschreibung:Erlangen; Nürnberg, Univ., Habil-Schr., 1977
Beschreibung:99 S. graph. Darst.

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