Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
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Bibliographic Details
Main Authors: Dietrich, Edgar 1951- (Author), Schulze, Alfred 1952- (Author)
Format: Book
Language:German
Published: München [u.a.] Hanser 2003
Subjects:
Physical Description:X, 268, 48 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3446223207

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