Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Dietrich, Edgar 1951- (VerfasserIn), Schulze, Alfred 1952- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München [u.a.] Hanser 2003
Schlagworte:
Beschreibung:X, 268, 48 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3446223207

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