Dietrich, E., & Schulze, A. (2003). Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld. Hanser.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Dietrich, Edgar, und Alfred Schulze. Eignungsnachweis Von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit Und Messunsicherheit Im Aktuellen Normenumfeld. München [u.a.]: Hanser, 2003.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Dietrich, Edgar, und Alfred Schulze. Eignungsnachweis Von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit Und Messunsicherheit Im Aktuellen Normenumfeld. Hanser, 2003.
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