Photoelektronen-Spektroskopie besetzter und unbesetzter Zustände hexagonaler Siliziumkarbid-Oberflächen:
Gespeichert in:
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
2002
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INHALTSVERZEICHNIS
1
EINLEITUNG
1
2
DAS
MATERIALSYSTEM
SILIZIUMKARBID
5
2.1
EIGENSCHAFTEN
UND
ANWENDUNGEN
VON
SIC
.
5
2.2
KRISTALLSTRUKTUR
VON
SILIZIUMKARBID
.
7
2.2.1
DAS
PHAENOMEN
POLYTYPISMUS
.
9
2.2.2
HEXAGONALITAET
ALS
MASS
ZUR
KLASSIFIZIERUNG
.
12
2.2.3
TECHNOLOGISCHE
RELEVANZ
UNTERSCHIEDLICHER
POLYTYPEN
.
15
2.2.4
ZUECHTUNGSVERFAHREN
.
16
2.3
ELEKTRONISCHE
STRUKTUR
DES
VOLUMENMATERIALS
.
17
3
DIE
OBERFLAECHEN-REKONSTRUKTIONEN
VON
HEXAGONALEN
SIC-POLYTYPEN
21
3.1
BESCHREIBUNG
VON
KRISTALLOBERFLAECHEN
.
21
3.1.1
POLARITAET
DER
{0001
}-FLAECHEN
VON
SILIZIUMKARBID
.
22
3.1.2
SYMMETRIEBRUCH
DES
VOLUMENS:
DIE
OBERFLAECHE
.
23
3.1.3
NOMENKLATUR
ZUR
BESCHREIBUNG
VON
OBERFLAECHENREKONSTRUK
TIONEN
.
24
3.1.4
OBERFLAECHENZUSTAENDE:
ENTSTEHUNG
UND
AUSWIRKUNGEN
.
24
3.2
SIC
(0001)
-OBERFLAECHEN:
VORUEBERLEGUNGEN
.
28
3.2.1
DIE
IDEALE
(1
X
1)-OBERFLAECHE
.
29
3.3
EXTRA
SITUM
PRAEPARIERTE
OBERFLAECHEN
.
32
3.3.1
PASSIVIERTE
OBERFLAECHE:
(\/3XX/3).R30-REKONSTRUKTION
.
32
3.3.2
YYVOLUMENTERMINIERTEOBERFLAECHE
"
:
(IX
1)-STRUKTUR
.
33
3.4
EVOLUTION
DER
IN
SITU-PRAEPARIERTEN
PHASEN
AUF
DER
SIC-(0001)-OBERFLAECHE
35
3.4.1
DIE
(3X3)
-REKONSTRUKTION
.
37
3.4.2
DIE
('/3X'/3)R30-SI-ADATOM-REKONSTRUKTION
.
42
3.4.3
DIE
(6^/3
X
6%/3)R30-REKONSTRUKTION
.
49
3.4.4
VERGLEICH
DER
VORGESTELLTEN
REKONSTRUKTIONEN
.
52
3.5
MOTT-HUBBARD-UEBERGANG
.
54
II
INHALTSVERZEICHNIS
4
DIE
PHYSIKALISCHEN
GRUNDLAGEN
DER
VERWENDETEN
MESSVERFAHREN
61
4.1
BEUGUNG
LANGSAMER
ELEKTRONEN
.
62
4.2
EIN
PHOTONEN
PHOTOEMISSIONSSPEKTROSKOPIE
.
64
4.2.1
WINKELAUFGELOESTE
PHOTOEMISSIONSSPEKTROSKOPIE
.
68
4.2.2
ROENTGENPHOTOEMISSIONSSPEKTROSKOPIE
.
72
4.3
ZWEI
PHOTONEN
PHOTOEMISSIONSSPEKTROSKOPIE
.
73
4.3.1
ENERGIEAUFGELOESTE
2PPE
AM
BEISPIEL
PD
(111)
.
74
4.3.2
ZEITAUFGELOESTE
2PPE
AM
BEISPIEL
PD(L
11)
.
78
4.3.3
EFFEKT
DER
VERSCHIEDENEN
LICHT-POLARISATIONEN
.
79
4.4
HALBLEITEROBERFLAECHEN
IN
DER
PHOTOEMISSIONSSPEKTROSKOPIE
.
81
5
EXPERIMENTELLES
85
5.1
APPARATIVES
.
85
5.1.1
LASERSYSTEM
ZUR
ERZEUGUNG
KURZER
PULSE
.
85
5.1.2
LJHV-APPARATUR
.
88
5.1.3
HEMISPHAERISCHER
ELEKTRONENANALYSATOR
.
90
5.2
PRAEPARATION
DER
UNTERSUCHTEN
OBERFLAECHEN
.
91
5.2.1
REKONSTRUKTIONEN
AUF
SILIZIUMKARBID
.
91
5.2.2
CU(L
11):
EIN
YYWERKZEUG
"
ZUR
LASER-JUSTAGE
.
96
6
1PPE:
ERGEBNISSE
UND
DISKUSSION
99
6.1
YYFINGERPRINTS
"
ZUR
IDENTIFIKATION
DER
PHASEN
.
99
6.1.1
ROENTGENPHOTOEMISSIONSSPEKTROSKOPIE
.
99
6.1.2
VALENZBAND-(ULTRAVIOLETT)-PHOTOELEKTRONEN-SPEKTROSKOPIE
.
.
101
6.1.3
RESUM:
1PPE-,,
FINGERPRINTS
"
.
107
6.2
(\/3X%/3).R30
O
-REKONSTRUKTION:
UPS-DISPERSIONSMESSUNGEN
.
108
6.3
ZUSAMMENFASSUNG
DER
ERGEBNISSE
AUS
IPPE-MESSUNGEN
.
116
7
2PPE:
ERGEBNISSE
UND
DISKUSSION
119
7.1
YYFINGERPRINTS
"
UND
AUSTRITTSARBEITEN
DER
VERSCHIEDENEN
PHASEN
.
.
.
120
7.2
(\/3XV
/
3)R30
0
-REKONSTRUKTION:
EIN
YYPUZZLE
"
AUS
VERSCHIEDENEN
EX
PERIMENTEN
.
126
7.2.1
PHOTOEMISSION
AUS
DEFEKTZUSTAENDEN
UND
YYTATSAECHLICHE
"
VAKUUMKANTE
.
127
7.2.2
OBERFLAECHENZUSTAENDE
DER
(V
Z
3X-\/3)R30
O
-REKONSTRUKTION
.
.
.
138
7.3
DISKUSSION
DER
ERGEBNISSE
.
173
INHALTSVERZEICHNIS
III
7.3.1
IDENTIFIZIERUNG
DER
EINZELNEN
SPEKTRENMERKMALE
.
173
7.3.2
ENERGIESCHEMA
DER
(V/3XX/3).R30
0
-REKONSTRUKTION
.
178
8
ZUSAMMENFASSUNG
183
A
BILDPOTENTIALZUSTAENDE
185
LITERATURVERZEICHNIS
191 |
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