Proceedings: April 28 - 2 May 2002, Monterey, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: VLSI Test Symposium Monterey, Calif (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Soc. 2002
Schlagworte:
Beschreibung:XXXVII, 452 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0769515703
0769515711

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